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利用越光白米之外觀性狀與理化性質判別其產區之方法

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	利用越光白米之外觀性狀與理化性質判別其產區之方法
‧ 專利證書號	I375795
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2008/09/19)
‧ 發明人	盧虎生, 張孟基, 潘成玉, 楊凡萱, 張芳瑜,

技術摘要：

本發明係關於一種利用越光白米之外觀性狀與理化性質判別其產區之方法，其包含下列步驟：(1)測量複數種已知產區越光白米之米粒長度、米粒寬度與直鏈澱粉含量、總氮含量、儲藏性蛋白質含量以及黏度等理化性質，將該些測量數值經統計分析建立一包括該些已知產區越光白米之米粒長度、米粒寬度與理化性質統計資料之產區判別模式；(2)測量一待測越光白米之米粒長度、米粒寬度與理化性質，並將該些測量數值輸入步驟(1)之產區判別模式；以及(3)經統計分析及比對步驟(2)該待測越光白米之該些數值與步驟(1)該些已知產區越光白米之該些數值，藉以判別得該待測越光白米之產區係為國外、國內東部或國內西部。

聯繫方式

聯絡人：研發處產學合作總中心	電話： (02)3366-9949

地　址： 10617臺北市大安區羅斯福路四段1號禮賢樓六樓608室

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