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應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台(Protable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography)
‧ 專利證書號	I396038 US 8,031,833 B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2009/07/29) 美國 (2009/12/01)
‧ 發明人	林達德, 江昭皚, 胡琬琳, 歐陽丞修, 楊曼妙, 楊恩誠,

技術摘要：

一種應用於X光斷層掃描的可攜式檢測台，包括一水平移動裝置，具有一第一滑動方向；以及一夾具，設置於該水平移動裝置上，該夾具與一馬達的輸出軸固定，使該夾具為可旋轉，其中該馬達的輸出軸的軸向與該第一滑動方向平行。

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