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具高偵測頻寬與高空間解析度的射頻反射式掃描穿隧顯微鏡

刊登日期：2014/10/14

‧ 專利名稱	射頻反射式掃描穿隧顯微鏡
‧ 專利證書號	US 8,863,311 B1
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2013/07/18) 美國 (2013/09/25)
‧ 發明人	白偉武, 黎煥欣, 陳怡然,

技術摘要：

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