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 應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台
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刊登日期：2014/05/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台(Protable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography) |
| ‧ 專利證書號 |
I396038
US 8,031,833 B2
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2009/07/29)
美國 (2009/12/01)
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| ‧ 發明人/PI |
林達德,江昭皚,胡琬琳,歐陽丞修,楊曼妙,楊恩誠,
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| ‧ 單位 |
生物產業機電工程學系
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
一種應用於X光斷層掃描的可攜式檢測台，包括一水平移動裝置，具有一第一滑動方向；以及一夾具，設置於該水平移動裝置上，該夾具與一馬達的輸出軸固定，使該夾具為可旋轉，其中該馬達的輸出軸的軸向與該第一滑動方向平行。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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