多晶矽薄膜之製作方法
刊登日期:2014/05/21
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 I255508
7192818B1
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2005/07/08)
美國 (2005/09/22)
 
  ‧ 發明人/PI 李嗣涔,孟昭宇,張旭佑,
  ‧ 單位 電子工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種多晶矽薄膜之製作方法,乃利用吸熱層提供充分熱源予非晶矽薄膜進行晶粒成長,並以絕緣層隔絕吸熱層與非晶矽薄膜,再藉由規則排列的導熱層作為冷源,來控制非晶矽薄膜之結晶位置及晶格大小,使得非晶矽薄膜可結晶為均勻的多晶矽薄膜,進而可穩定控制多晶矽薄膜的電性。

A polysilicon thin film fabrication method is provided, in which a heat-absorbing layer is used to provide sufficient heat for grain growth of an amorphous silicon thin film, and an insulating layer is used to isolate the heat-absorbing layer and the amorphous silicon thin film. A regular heat-conducting layer is used as a cooling source to control the crystallization position and grain size of the amorphous silicon thin film. Therefore, the amorphous silicon thin film can crystallize into a uniform polysilicon thin film, and the electrical characteristics of the polysilicon thin film can be stably controlled.




專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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