多(雙)波長三倍頻顯微鏡
  ‧ 專利名稱 複數三倍頻顯微鏡系統及方法
  ‧ 專利證書號 I429897
US8941087
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2010/11/15)
美國 (2011/06/28)
  ‧ 發明人 孫啟光, 蔡明容,
 
技術摘要:
本發明提供一種複數三倍頻顯微鏡系統及方法,包含有一雷射裝置、一顯微鏡裝置、一分光裝置及光偵測裝置。利用多個不同波長的雷射光源或一寬頻光源,同時分析不同波長之三倍頻反應,同時得到材料或生物組織在不同波長激發下的三倍頻影像和光譜,可以藉此得到材料或生物分子的分佈顯微影像與特性。

The present invention provides a plural third harmonic generation (THG) microscopic system and method. The system includes a laser device, a microscopic device, a beam splitter device and a photodetective device. By utilizing lasers with different central wavelengths or a broad band light source to simultaneously analyze THG response with respect to different wavelengths, a plurality of THG images and THG spectrum of the material or bio-tissue under stimulation of different wavelengths are obtained, thereby retrieving distributed microscopic images and resonant characteristics of the observational material or bio-molecules.



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