Enhancement of Dielectric Constant with Layered Oxide Structure
刊登日期:2020/10/06
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 10,797,137
11,817,481
US11502174B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
美國 (2018/04/27)
中華民國 (2018/06/25)
中國 (2018/06/29)
美國 (2020/10/05)
美國 (2022/08/09)
 
  ‧ 發明人/PI 鄭鴻祥,
  ‧ 單位 台積電-臺灣大學聯合研發中心
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:




專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
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