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依同調干涉儀成像系統與其成像模組與成像方法

刊登日期：2022/01/11

‧ 專利名稱	依同調干涉儀成像系統與其成像模組與成像方法
‧ 專利證書號	I752616 US11496677B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2020/09/04) 美國 (2020/09/15)

‧ 發明人/PI	李翔傑,陳庭皓,蔡廷彥,闕川博,張育瑋,王璟郁,
‧ 單位	光電工程學研究所
‧ 簡歷/Experience

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