用於分時雙工系統的處理干擾量測的方法及相關通訊裝置
刊登日期:2016/02/21
  ‧ 專利名稱 用於分時雙工系統的處理干擾量測的方法及相關通訊裝置
  ‧ 專利證書號 I523552
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2014/01/28)
 
  ‧ 發明人/PI 魏宏宇
  ‧ 單位
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種處理干擾量測的方法,用於一分時雙工(Time-Division Duplexing,TDD)系統的一通訊裝置,該方法包含有接收一訊號;根據該訊號,測量一子訊框中來自於該分時雙工系統中具有至少一上鏈路/下鏈路組態的至少一細胞的一干擾,以取得一干擾量測值;以及產生包含有該干擾量測值及該至少一細胞的該至少一上鏈路/下鏈路組態的一資訊的一量測結果。



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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