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量測關鍵尺寸的光學量測系統與方法
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刊登日期:2025/09/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
量測關鍵尺寸的光學量測系統與方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I898876
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2024/10/16)
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| ‧ 發明人/PI |
陳亮嘉,楊福生,
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| ‧ 單位 |
機械工程學系
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| ‧ 簡歷/Experience |
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技術摘要 / Our Technology: |
本案提供一種量測關鍵尺寸的光學量測系統與方法,利用寬頻光源對於高深寬比微結構進行照明,取得角度、光譜資訊,同步形成背焦影像,進而提高橫向關鍵尺寸的精準度。
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專利簡述 / Intellectual Properties: |
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聯繫方式 / Contact: |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email:ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel:02-3366-9945 |
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