量測關鍵尺寸的光學量測系統與方法
刊登日期:2025/09/21
  ‧ 專利名稱 量測關鍵尺寸的光學量測系統與方法
  ‧ 專利證書號 I898876
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2024/10/16)
 
  ‧ 發明人/PI 陳亮嘉,楊福生,
  ‧ 單位 機械工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
本案提供一種量測關鍵尺寸的光學量測系統與方法,利用寬頻光源對於高深寬比微結構進行照明,取得角度、光譜資訊,同步形成背焦影像,進而提高橫向關鍵尺寸的精準度。



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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