應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台
  ‧ 專利名稱 應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台(Protable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography)
  ‧ 專利證書號 I396038
US 8,031,833 B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2009/07/29)
美國 (2009/12/01)
  ‧ 發明人 林達德, 江昭皚, 胡琬琳, 歐陽丞修, 楊曼妙, 楊恩誠,
 
技術摘要:
一種應用於X光斷層掃描的可攜式檢測台,包括一水平移動裝置,具有一第一滑動方向;以及一夾具,設置於該水平移動裝置上,該夾具與一馬達的輸出軸固定,使該夾具為可旋轉,其中該馬達的輸出軸的軸向與該第一滑動方向平行。



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