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SPR自然力進程流體晶片操作技術與裝置

刊登日期：2015/01/08

‧ 專利名稱	以表面電漿共振定量分析之自動操作檢測程式的多孔性薄膜微流體裝置
‧ 專利證書號	I498166 US9,505,001 B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2013/07/02) 美國 (2014/04/01)
‧ 發明人	莊琮亮, 林啟萬, 張家禎, 魏世忠,

技術摘要：

本發明之主要目的係在提供一種多孔性薄膜微流體裝置，俾能無須使用幫浦情況下，使極微量的樣品透過自然力而流至感測區域，且在低蒸散速率下進行樣品SPR訊號的檢測。俾能改善習知微流體裝置的檢測效率與側向流試劑的不穩定性。

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