防止金屬遷移的電子封裝件
刊登日期:2014/05/21
  ‧ 專利名稱 防止金屬遷移的電子封裝件
  ‧ 專利證書號 I419280
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2009/01/16)
 
  ‧ 發明人/PI 高振宏,朱瑾,莊鑫毅,林宗新,
  ‧ 單位 材料科學與工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
本發明提供一種防止金屬遷移的電子封裝件,包含至少一電子晶片、一基板、複數擴散阻絕層,及複數電連接塊,該電子晶片具有複數金屬墊,該基板具有一預定電路,且該等擴散阻絕層是形成於該預定電路上,並包括至少一Cu100-x-yRuxNy之組成物,以原子百分比計,0<x≦5,0<y≦5,該等金屬墊與擴散阻絕層為彼此相對應,該等電連接塊為分別電連接該彼此對應之金屬墊及擴散阻絕層,將該電子晶片固接於該基板,另外,本發明亦同時提供一種防止金屬遷移的基板及電子晶片。



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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