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應用窄頻熱輻射光源之氣體偵測裝置

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	氣體偵測系統以及用於氣體偵測系統之發光元件
‧ 專利證書號	I472743 9146191
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2012/11/15) 美國 (2013/03/18)

‧ 發明人/PI	李嗣涔,陳鴻欣,陳俊翰,蔡尚儒,林世明,
‧ 單位	電子工程學研究所
‧ 簡歷/Experience

技術摘要 / Our Technology：

本發明提供一種氣體偵測系統,包括:一殼體、一氣體輸入埠、一氣體輸出埠、一發光元件以及一光偵測器。其中該殼體內部具有一中空的腔體;該氣體輸入埠設置在該殼體上,該氣體輸入埠用以讓一待測氣體輸入至該腔體中;該氣體輸出埠設置在該殼體上,該氣體輸出埠用以讓該待測氣體從該腔體輸出至該殼體外部;該發光元件設置在該殼體上,該發光元件藉由操作在表面電漿子模態或波導模態發射多波段窄頻熱輻射光源至該腔體中,該多波段窄頻熱輻射光源的波長包括該待測氣體的一第一吸收波段及一第二吸收波段;以及該光偵測器設置在該殼體上,該光偵測器用以偵測通過該腔體的該熱輻射光源的强度,以判斷該待測氣體的種類以及濃度。

A gas detection system comprising a case having a hollow chamber, a gas input port, a gas output port, a radiation emitting device, and a photo detector. The gas input port may be disposed on the case for a test gas flowing into the chamber. The gas output port may be disposed on the case for the test gas flowing out of the chamber. The radiation emitting device may be disposed on the case and operated in a surface plasmonic mode or a waveguide mode for emitting a narrow bandwidth thermal radiation light source with multi-peak wavelengths into the chamber, wherein the multi-peak wavelengths may comprise a first absorption wavelength and a second absorption wavelength of the test gas. The photo detector may be disposed on the case for detecting light intensity of the light source passing through the chamber to determine the concentration of the test gas.

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