Method of laser annealing in a Gas mixture containing dopants
刊登日期:2019/05/28
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 10867809B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
美國 (2018/06/01)
中華民國 (2018/10/18)
中國 (2018/11/20)
 
  ‧ 發明人/PI 劉致為,魯涒地,李孟津,呂芳諒,
  ‧ 單位 台積電-臺灣大學聯合研發中心
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
形成半導體裝置之方法包括在半導體基板上形成摻雜區域,其中摻雜區域包含雜質,及利用包含摻雜劑氣體之處理氣體對摻雜區域執行雷射退火製程,其中摻雜劑氣體與雜質包含同一化學元素。 A method of forming a semiconductor device includes forming a doped region on a semiconductor substrate, in which the doped region comprises an impurity therein, and performing a laser anneal process to the doped region with a process gas containing a dopant gas, in which the dopant gas and the impurity comprise the same chemical element.



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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