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 運用可同步誘導電路的主動式積體電路量測技術
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刊登日期：2014/05/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
運用可同步誘導電路的主動式積體電路量測技術 |
| ‧ 專利證書號 |
I419535
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2009/11/10)
美國 (2010/06/18)
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| ‧ 發明人/PI |
甘家兆 ,江介宏 ,
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| ‧ 單位 |
電子工程學研究所
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
本發明的一實施例為一種具有矽智財保護的積體電路，包括一硬體矽智財、一識別碼產生器以及一鎖定電路。識別碼產生器，根據每一製造出的該硬體矽智財產生一識別碼(ID)。鎖定電路，用以鎖定該硬體矽智財，且當該鎖定電路接收到對應到該識別碼的一金鑰時，鎖定電路將製造出的該硬體矽智財解鎖。
An embodiment of the invention provides an integrated circuit with IP protection. The integrated circuit includes a hardware IP, an ID generator and a lock circuit. The ID generator generates an ID according to each manufactured hardware IP. The lock circuit locks the manufactured hardware IP and unlocks the manufactured hardware IP when receiving a key corresponding to the ID.
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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