|
 利用n型氧化鋅(n-ZnO)/鋁酸鑭(LaAlO3)/p型矽(p-Si)異質接面做無視可見光之紫外光偵測
|
刊登日期：2014/05/21 |
|
|
|
|
|
| ‧ 專利名稱 |
阻擋可見光之紫外光偵測器及其製造方法 |
| ‧ 公開號 |
201405851
|
| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2012/07/27)
|
|
|
| |
| ‧ 發明人/PI |
何志浩,蔡東昇 ,
|
| ‧ 單位 |
光電工程學研究所
|
| ‧ 簡歷/Experience |
|
|
| 技術摘要 / Our Technology： |
本發明揭露一種阻擋可見光之紫外光偵測器及其製造方法,其係於N型氧化鋅層與P型矽層之間設置一鋁酸鑭層,以作為電子阻擋及緩衝層。本發明除了可以抑制可見光與紅外光的響應,更改善了氧化鋅與矽之間晶格不匹配的問題,從而增進紫外光偵測器的訊噪比及N型氧化鋅/P型矽異質接面的品質。
|
| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
|
| |
聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
|
| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
|
|
| |
|
| |
 |
專利行銷平台