Enhancement of Dielectric Constant with Layered Oxide structure
刊登日期:2020/08/18
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 10,748,774
US11114301B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
美國 (2018/11/14)
美國 (2020/08/03)
 
  ‧ 發明人/PI 楊博宇,林延勳,萬獻文,林耕雍,郭瑞年,洪銘輝,
  ‧ 單位 台積電-臺灣大學聯合研發中心
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:




專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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