混和鋸齒及捲邊界之緊縮場柱狀碟 型反射面設計
刊登日期:2022/01/11
  ‧ 專利名稱 具有碟型反射面的天線量測系統
  ‧ 專利證書號 15473703
I774237
US11552716B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2021/02/09)
中國 (2021/04/09)
美國 (2021/05/04)
 
  ‧ 發明人/PI 周錫增,邱志偉,
  ‧ 單位 電信工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種天線量測系統,包含一天線陣列、一反射碟面陣列以及一量測面。天線陣列包含呈直線排列的多個天線單元;上述天線單元中任何相鄰兩天線單元相隔一預定間距,且上述天線單元中每一天線單元具有一輻射體以及一饋入點。反射碟面陣列包括至少一反射碟面,沿著一寬度或高度方向排列,反射碟面陣列用以根據天線陣列發出的訊號產生一反射訊號。待測天線在量測面用以對反射訊號進行一量測操作。



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

聯繫方式 / Contact:
臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email:ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel:02-3366-9945