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高深寬比微結構光學量測系統
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刊登日期:2023/07/01 |
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‧ 專利名稱 |
高深寬比微結構光學量測系統 |
‧ 專利證書號 |
I807653
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‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2022/02/23)
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‧ 發明人/PI |
陳亮嘉,伍國瑋,簡維信,
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‧ 單位 |
機械工程學系
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‧ 簡歷/Experience |
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技術摘要 / Our Technology: |
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專利簡述 / Intellectual Properties: |
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聯繫方式 / Contact: |
臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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Email:ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel:02-3366-9945 |
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