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基於系統晶片之超高速微型相量量測器
 刊登日期：2025/03/01
  ‧ 專利名稱 同步相量量測電路及同步相量量測方法
  ‧ 專利證書號 I875288
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2023/11/03)
 
  ‧ 發明人/PI 劉志文,李紀樟,王倚任,謝仕凡,
  ‧ 單位 電機工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：



專利簡述 / Intellectual Properties：



 

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臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email：ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel：02-3366-9945
 
 
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