短光纖探針與微型石英音叉裝置式近場掃描光學顯微儀
  ‧ 專利名稱 短光纖探針與微型石英音叉裝置式近場掃描光學顯微儀
  ‧ 專利證書號 I220530
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2003/07/22)
 
  ‧ 發明人/PI 蔡定平,傅源興,
  ‧ 單位 物理學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
本發明係為一種使用短光纖探針與微型石英音叉裝置來提高近場掃描光學顯微儀的力學感測與回饋機制的新式近場掃描光學顯微儀方法。
This invention is a method and device to increase the sensitivity of the force sensing and feedback control of the near-field scanning optical microscope by using a short fiber probe with a small quartz tuning fork.




聯繫方式 / Contact:
臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email:ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel:02-3366-9945