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 微分相位對比顯微系統與方法 |
刊登日期：2018/10/01 |
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| ‧ 專利名稱 |
微分相位對比顯微系統與方法 |
| ‧ 專利證書號 |
109780993B
I637166
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2017/11/14)
中國 (2017/12/22)
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| ‧ 發明人 |
駱遠, |
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| 技術摘要： |
一種微分相位對比顯微系統與方法，其中該系統包括一光強度調制模組、一聚光透鏡、一物鏡以及一影像擷取模組。該光強度調制模組，用以根據控制訊號將該入射光場調制成具有一梯度強度分佈的偵測光場。該聚光透鏡用以接收該偵測光場，並產生一離軸光場投射至一待測物上，進而產生一待測物光場而被該物鏡接收。該影像擷取模組，用以接收該待測物光場，而產生相應該強度梯度分佈的一光學影像。該方法更包括有控制該光強度調制模組產生沿一第一軸向光強度逐漸減少的第一梯度遮罩、沿該第一軸向光強度逐漸增加的第二梯度遮罩、沿一第二軸向光強度逐漸減少的第三梯度遮罩以及沿該第二軸向光強度逐漸增加的第四梯度遮罩，使該影像擷取模組分別擷取對應該第一至第四梯度遮罩的第一至第四光學影像。
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聯繫方式 |
| 聯絡人：
研發處產學合作總中心 |
電話：
(02)3366-9949 |
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10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室 |
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