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藥物不良反應風險評估方法及其裝置
刊登日期:2016/08/24
‧ 專利名稱
藥物不良反應風險評估方法及其裝置
‧ 專利證書號
3702290
I579722
1228462
‧ 專利權人
國立臺灣大學
‧ 專利國家
(申請日)
中國 (2016/02/16)
中華民國 (2016/02/16)
香港 (2017/02/23)
‧ 發明人
陳沛隆, 張天鈞, 楊偉勛, 施翔蓉, 范盛娟,
技術摘要:
本發明關於一種藥物不良反應風險評估方法,透過偵測一病患是否帶有與抗甲狀腺藥物所引發之無顆粒性白血球症相關的對偶基因,以評估該病患發展出藥物不良反應之風險。本發明另關於一種用以執行前述藥物不良反應風險評估方法之裝置。
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聯繫方式
聯絡人: 研發處產學合作總中心
電話: (02)3366-9949
地 址: 10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室