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System and method for isotropic quantitative differential phase contrast microscopic imaging

刊登日期：2019/06/11

‧ 專利名稱	具等向性轉換函數之量化差分相位對比顯微系統
‧ 專利證書號	110388882B I662262
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2018/07/19) 中國 (2018/10/12)
‧ 發明人	駱遠, 林鈺梓,

技術摘要：

一種具等向性轉換函數之量化差分相位對比顯微系統，其係透過一機制使偵測光場具有沿特定軸向或徑向之光強度梯度分佈，並經由聚光透鏡產生一離軸光場投射至一待測物上，進而產生一測物光場，透過物鏡導引至影像擷取裝置，產生相應的影像。該相應的影像經由差分相位對比演算得到相應位置的相位，進而根據相位得知相應位置之深度資訊，進而重建物體表面形貌。

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