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具有全域反捲積表面形貌重建之線掃描彩色共焦量測系統
 刊登日期：2025/06/01
  ‧ 專利名稱 具有全域反捲積表面形貌重建的線掃描彩色共焦量測系統
  ‧ 專利證書號 I886056
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2024/09/30)
 
  ‧ 發明人/PI 陳亮嘉,蔡翰儒,
  ‧ 單位 機械工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：
一種具有全域反捲積表面形貌重建之線掃描彩色共焦量測系統，能藉由量測到的空間變異點擴散函數，結合基反捲積的運算，而有效進行待測物表面影像還原，藉此解決橫向交談的問題。
專利簡述 / Intellectual Properties：



 

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