可授權技術分類

 
 生醫農健   (892)
 
+ 農業 (177)
+ 醫療器材 (256)
+ 篩選平台 (65)
+ 藥物 (167)
+ 基因體學 (45)
+ 研究工具 (66)
+ 技術 (89)
+ 食品加工 (6)
+ 於手持式裝至進行醫學教育之app開發與應用 (1)
 電資通光   (949)
 
+ 電子光電 (299)
+ 資訊通訊 (329)
 機能材化   (1124)
 
+ 材料化工 (282)
+ 能源環工 (237)
+ 機械儀設 (199)
+ xx (3)
   
最適傾角之高精確掃描雙探針原子力顯微鏡
 刊登日期：2017/05/11
  ‧ 專利名稱 原子力顯微鏡掃描方法
  ‧ 專利證書號 I582429
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2015/01/09)
 
  ‧ 發明人/PI 傅立成,吳俊緯,林奕廷,羅宇廷,劉韋志
  ‧ 單位 電機工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：
本發明提供一種原子力顯微鏡掃描方法，適用於一具有雙探針之原子力顯微鏡，包括：將該些探針進行對位；分別調整該些探針的一傾角適於掃描一試片；分別以一探針掃描該試片以取得一筆掃描資料；及合併該兩筆掃描資料，以獲得該試片上的表面微結構形狀或微特性。
專利簡述 / Intellectual Properties：



 

聯繫方式 / Contact：
臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email：ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel：02-3366-9945
 
 
國立臺灣大學 研發處產學合作總中心　10617臺北市大安區羅斯福路四段1號　禮賢樓六樓608室　TEL:(02)3366-9988
© 2010-2024 NTU All Rights Reserved     著作權聲明                                本系統採用專利行銷平台