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混和鋸齒及捲邊界之緊縮場柱狀碟 型反射面設計
 刊登日期：2022/01/11
  ‧ 專利名稱 具有碟型反射面的天線量測系統
  ‧ 專利證書號 15473703
I774237
US11552716B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2021/02/09)
中國 (2021/04/09)
美國 (2021/05/04)
 
  ‧ 發明人/PI 周錫增,邱志偉,
  ‧ 單位 電信工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：



專利簡述 / Intellectual Properties：



 

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臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email：ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel：02-3366-9945
 
 
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