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利用電容法量測熱管與均溫板內之空隙率變化
 刊登日期：2022/06/21
  ‧ 專利名稱 熱導元件內部空隙率的量測系統與其量測方法
  ‧ 專利證書號 I768756
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2021/03/10)
美國 (2021/11/18)
 
  ‧ 發明人/PI 孫珍理,劉昱祥,連于仁
  ‧ 單位 機械工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：



專利簡述 / Intellectual Properties：



 

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臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email：ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel：02-3366-9945
 
 
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