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利用電容法量測熱管與均溫板內之空隙率變化
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刊登日期:2022/06/21 |
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‧ 專利名稱 |
熱導元件內部空隙率的量測系統與其量測方法 |
‧ 專利證書號 |
I768756
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‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2021/03/10) 美國 (2021/11/18)
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‧ 發明人/PI |
孫珍理,劉昱祥,連于仁
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‧ 單位 |
機械工程學系
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‧ 簡歷/Experience |
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技術摘要 / Our Technology: |
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專利簡述 / Intellectual Properties: |
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聯繫方式 / Contact: |
臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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Email:ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel:02-3366-9945 |
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