部分遮陰狀態下太陽能模組陣列系統的多點直接預測最大功率點方法
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 I461882
US 8957643 B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
美國 (2012/09/08)
中華民國 (2012/09/18)
  ‧ 發明人 江昭皚, 王人正, 蘇益立, 郭昆璋, 謝志誠,
 
技術摘要:
本發明提供一種太陽能模組系統的最大功率點預測方法,包括:偵測一太陽能模組陣列的系統參數與環境參數;根據該系統參數與該環境參數估算該太陽能模組陣列包含的每一個太陽能模組的一第一電壓係數;將該第一電壓係數按照不同的遮陰比例估算出複數個第二電壓係數;根據該些第二電壓係數估算對應的複數個局部最大功率點功率;以及比較該些局部最大功率點功率的最大値以決定該太陽能模組陣列的一整體最大功率點。


A method of maximum power point tracking for a photovoltaic module system is disclosed. The photovoltaic module system may comprise a photovoltaic module array comprising a plurality of identical photovoltaic modules, and the tracking method may comprise: detecting system parameters and environmental parameters of the photovoltaic module array; estimating a first voltage coefficient of one photovoltaic module according to the system parameters and the environmental parameters; estimating a plurality of second voltage coefficients of the photovoltaic module array according to the first voltage coefficient with different shading ratios; estimating a plurality of local maximum power point powers according to corresponding second voltage coefficients; and determining a whole maximum power point by comparing the local maximum power point powers with one another.




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