非侵入式物質感測系統介電常數量測介面電路架構
  ‧ 專利名稱 介電常數量測電路及介電常數及量測方法
  ‧ 專利證書號 I495881
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2013/08/12)
美國 (2013/12/09)
  ‧ 發明人 林啟萬, 彭盛裕, 陳柏伸,
 
技術摘要:
本技術能提高讀取頻率的解析度,降低消耗功率,將其系統微小化以整合在積體電路或一般消費電子產品中,使得介電物質測量系統更便於應用在生活當中,實屬當前重要研發課題之一,亦成為當前相關領域極需改進的目標。



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