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 一種用於偵測微波的裝置及其方法
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刊登日期：2014/05/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
一種用於偵測微波的裝置及其方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I399549
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2009/08/19)
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| ‧ 發明人/PI |
陳松賢,張慶瑞,
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| ‧ 單位 |
物理學系
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
本發明提供一種用以偵測微波的裝置及其方法。該用以偵測微波的方法，包括：提供具有一第一側與一第二側的一第一鐵磁性層、一第一組導線及一第二組導線；藉由該第一鐵磁性層接收一微波，並產生一第一電流及一第二電流；以及透過該第一組導線及該第二組導線來量測該第一電流及該第二電流。該用以偵測微波的裝置，包括：一鐵磁性層，具有一第一側與一第二側，用以接收一微波以產生一第一電流及一第二電流；以及一第一組導線及一第二組導線，其分別耦接至該鐵磁性層的該第一側與該第二側，用以傳輸該鐵磁性層所產生的該第一電流及該第二電流。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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