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解析透鏡組

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	解析透鏡組
‧ 專利證書號	I449960
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2012/06/11)
‧ 發明人	蔡定平, 成柏翰, 何佑哲, 藍永強,

技術摘要：

一種解析透鏡組，其包含第一透鏡及第二透鏡。第一透鏡係由數個均為平面之第一金屬層與第一介電層交錯堆疊而形成一半球體或半圓柱體。第二透鏡係由數個均為曲面之第二金屬層與第二介電層交錯堆疊而形成一具有凹槽之半球體或半圓柱體，且凹槽容置有第一透鏡。其中，第一透鏡用以投影待解析物體之波長訊號(高階訊號)至第二透鏡，使第二透鏡放大該波長訊號。藉此，解析透鏡組可突破光的繞射極限，以解析小於半波長之微結構的資訊。

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