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檢測設備
刊登日期:2014/05/21
‧ 專利名稱
檢測設備
‧ 專利證書號
M434935
‧ 專利權人
國立臺灣大學
‧ 專利國家
(申請日)
中華民國 (2012/03/14)
‧ 發明人
徐上林,
技術摘要:
一種檢測設備,用以檢測材料的晶體結構。檢測設備包括主體、腔體、冷卻裝置以及光檢測器。主體包括基座以及承載平台。承載平台固定於基座。腔體可拆卸地組裝於承載平台上。腔體具有檢測部以及與檢測部連接的加熱裝置。材料置放於檢測部。冷卻裝置連接於腔體。光檢測器配置於基座。光檢測器提供光源至腔體的檢測部。
聯繫方式
聯絡人: 研發處產學合作總中心
電話: (02)3366-9949
地 址: 10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室