檢測設備 刊登日期:2014/05/21
  ‧ 專利名稱 檢測設備
  ‧ 專利證書號 M434935
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2012/03/14)
  ‧ 發明人 徐上林,
 
技術摘要:
一種檢測設備,用以檢測材料的晶體結構。檢測設備包括主體、腔體、冷卻裝置以及光檢測器。主體包括基座以及承載平台。承載平台固定於基座。腔體可拆卸地組裝於承載平台上。腔體具有檢測部以及與檢測部連接的加熱裝置。材料置放於檢測部。冷卻裝置連接於腔體。光檢測器配置於基座。光檢測器提供光源至腔體的檢測部。



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