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 光學系統及使用該系統之物體表面或內部光反射介面三維形貌偵測方法 |
刊登日期：2018/01/01 |
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| ‧ 專利名稱 |
物體表面或內部光反射介面三維形貌偵測光學系統與方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I636231
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2016/06/27)
中國 (2016/10/08)
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| ‧ 發明人 |
陳亮嘉, 阮忠德, |
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| 技術摘要： |
本發明提供一種藉由同步多點光學掃描之高速全域式光學系統與物體表面或內部光反射介面(含物體之背面)三維形貌偵測方法。將光調制單元產生之至少一點光源投射至一物體表面或內部光反射介面(含物體之背面)的至少一位置。再以該影像擷取裝置接收由該至少一深度位置反射之至少一反射物光，以產生該深度相對應的一特定光學繞射影像，其係具有至少一光學繞射圖案。該偵測方法利用精密深度位移進行各個深度所對應光學繞射圖案之紀錄，以形成一個複數個光學繞射圖案資料庫。將物體表面或內部光反射介面(含物體之背面)三維形貌深度所量測得到的光學繞射圖案，利用控制與計算單元，將量測光學繞射圖案與複數個光學繞射圖案樣本進行正歸化影像匹配運算，以決定對應該光學繞射圖案之位置的精密深度資訊。
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聯繫方式 |
| 聯絡人：
研發處產學合作總中心 |
電話：
(02)3366-9949 |
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| 地 址：
10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室 |
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