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利用超音波產生擾動區域並生成分層掃描影像之成像系統 |
刊登日期:2018/02/11 |
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‧ 專利名稱 |
利用超音波產生擾動區域並生成分層掃描影像之成像系統 |
‧ 專利證書號 |
I614491 10184826
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‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2017/02/21) 美國 (2017/07/05)
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‧ 發明人 |
李百祺, 趙珮妤, |
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技術摘要: |
一種利用超音波產生擾動區域並生成分層掃描影像之成像系統,成像系統中,超音波裝置發送超音波至活動平台,活動平台受操作而移動至一活動路徑之複數個掃描成像位置,並設置一包含至少一散射物質之待測物。待測物接收到超音波時產生一剪切波而使散射物質產生擾動並形成一擾動區域。雷射裝置發射出一穿透擾動區域後產生至少一光斑之雷射光束。雷射光束依序穿透擾動區域與對焦裝置之對焦孔後聚焦於一聚焦位置。成像裝置設置於聚焦位置而接收雷射光束以生成複數個對應於該些掃描成像位置之呈現出光斑之分層掃描影像,並將該些分層掃描影像處理為一彈性影像。
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聯繫方式 |
聯絡人:
研發處產學合作總中心 |
電話:
(02)3366-9949 |
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地 址:
10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室 |
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