一種不受外場電流源干擾且具高偵測頻寬的射頻反射式掃描穿隧顯微鏡 刊登日期:2015/01/22
  ‧ 專利名稱 一種不受外場電流源干擾且具高偵測頻寬的射頻反射式掃描穿隧顯微鏡
  ‧ 專利證書號 CN105301287B
I504900
US 9,304,146 B2
DE102014220698B4
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2014/07/17)
美國 (2014/09/19)
中國 (2014/10/13)
德國 (2014/10/13)
  ‧ 發明人 白偉武, 黎煥欣, 陳怡然, 趙彥錚,
 
技術摘要:




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