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一種相位陣列天線校正方法

刊登日期：2021/09/11

‧ 專利名稱
‧ 專利證書號	CN114915356B I739181 US11811461B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2019/10/24) 美國 (2021/01/15) 中國 (2021/02/08)
‧ 發明人	周錫增, 劉人瑋,

技術摘要：

一種相位陣列天線校正方法，係為一種應用於掃描波束的相位陣列天線的校正方法，其中上述相位陣列天線具有N個天線元素，其分解成具有M個天線元素的G個子陣列，而相位陣列天線校正方法係包含下列步驟：(a)輸入上述G個子陣列對應操作次序r的子陣列離散傅立葉轉換信號於上述G個子陣列；(b)在一個固定位置量測上述G個子陣列對應操作次序r的遠場信號；(c)重複步驟a至b的操作次序r由1至G次，產生對應上述G個子陣列遠場信號的G個子陣列誤差校正信號。

聯繫方式

聯絡人：研發處產學合作總中心	電話： (02)3366-9949

地　址： 10617臺北市大安區羅斯福路四段1號禮賢樓六樓608室

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