Selective growth of antimonene on MoS2 surfaces for device applications 刊登日期:2020/12/22
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 US10872973B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
美國 (2018/12/28)
中國 (2019/03/25)
中華民國 (2019/04/17)
  ‧ 發明人 林時彥,
 
技術摘要:
本揭露描述製造二維材料結構的方法,包含接收一晶圓,晶圓包含基板與基板上之第一二維材料的第一層,藉由圖案化第一層,形成第一二維材料的第一圖案,以及選擇性地在第一圖案上形成第二二維材料的第二層,第二二維材料的第二層實質上覆蓋第一圖案。 The current disclosure describes a method of manufacturing two-dimensional material structures. The method includes receiving a wafer including a substrate and a first layer of a first two-dimensional material over the substrate. By patterning the first layer, a first pattern of the first two-dimensional material is formed. A second layer of a second two-dimensional material is selectively formed over the first pattern, and the second layer of the second two-dimensional material substantially overlaps the first pattern.



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