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Test methodology for dual-rail asynchronous circuits

刊登日期：2019/10/01

‧ 專利名稱
‧ 專利證書號	US11073552B2 US10429440B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	美國 (2017/07/26) 中華民國 (2017/12/05) 中國 (2017/12/07) 美國 (2019/09/30)
‧ 發明人	李建模,

技術摘要：

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