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 混和鋸齒及捲邊界之緊縮場柱狀碟 型反射面設計
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刊登日期：2022/01/11 |
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| ‧ 專利名稱 |
具有碟型反射面的天線量測系統 |
| ‧ 專利證書號 |
15473703
I774237
US11552716B2
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2021/02/09)
中國 (2021/04/09)
美國 (2021/05/04)
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| ‧ 發明人/PI |
周錫增,邱志偉,
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| ‧ 單位 |
電信工程學研究所
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
一種天線量測系統，包含一天線陣列、一反射碟面陣列以及一量測面。天線陣列包含呈直線排列的多個天線單元；上述天線單元中任何相鄰兩天線單元相隔一預定間距，且上述天線單元中每一天線單元具有一輻射體以及一饋入點。反射碟面陣列包括至少一反射碟面，沿著一寬度或高度方向排列，反射碟面陣列用以根據天線陣列發出的訊號產生一反射訊號。待測天線在量測面用以對反射訊號進行一量測操作。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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