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以光學同調斷層掃描分析黏膜本的方法

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	以光學同調斷層掃描分析黏膜本的方法
‧ 專利證書號	I359007 8023119B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2008/10/29) 美國 (2009/02/26)

‧ 發明人/PI	蔡孟燦 ,李翔傑 ,李正匡 ,王義閔 ,江俊斌 ,陳信銘 ,楊志忠 ,
‧ 單位	光電工程學研究所
‧ 簡歷/Experience

技術摘要 / Our Technology：

一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法，包括：(a)利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本；(b)由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中，選出一特定橫向範圍，分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號；(c)計算各縱向強度分佈之三種參數，包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標；以及(c)以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值，來分析黏膜樣本之結構。

A method for analyzing mucosa structure with optical coherence tomography (OCT) is provided, and includes: (a) scanning a mucosa sample with optical coherence tomography; (b) choosing a lateral range from a two- or three-dimensional OCT image and analyzing all the A-scan intensity profiles in the lateral range; (c) calculating three indicators in each A-scan intensity profile, including the standard deviation for a certain depth range below the sample surface, the exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum and the epithelium thickness under the condition that the basement membrane is identifiable; and (d) using the three indicators of each A-scan intensity profile within the lateral range to analyze the mucosa structure.

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