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位元率-誤差最佳化量化方法
 刊登日期：2015/05/14
  ‧ 專利名稱 位元率-誤差最佳化量化器設計
  ‧ 公開號 US 2015-0131719 A1
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2013/11/12)
美國 (2014/01/13)
 
  ‧ 發明人/PI 陳宏銘,黃崇堯,高偈愷,
  ‧ 單位 電信工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：



專利簡述 / Intellectual Properties：



 

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臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
Email：ordiac@ntu.edu.tw 電話/Tel：02-3366-9945
 
 
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