微型三維輪廓掃描器
  ‧ 專利名稱 微型三維輪廓掃描器
  ‧ 專利證書號 200231
US6,977,732 b2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2002/10/25)
美國 (2002/12/26)
 
  ‧ 發明人/PI 范光照,陳亮嘉,
  ‧ 單位 機械工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
本發明係為一種微型三維輪廓掃描器,藉由將光學投影單元與影像擷取單元之光學元件與光學透鏡組整合於一微型量測裝置內,並利用光纖導入外部光源後,數位微鏡投影晶片可產生結構光圖譜並投射至待測物,再以影像感測元件擷取變形之結構光紋影像,利用此資訊可得到物體之彩色二維影像及三維輪廓尺寸,本發明因此可應用於狹窄空間內之量測。




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