應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台
  ‧ 專利名稱 應用於X光斷層掃瞄之可攜式檢測台(Protable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography)
  ‧ 專利證書號 I396038
US 8,031,833 B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2009/07/29)
美國 (2009/12/01)
 
  ‧ 發明人/PI 林達德,江昭皚,胡琬琳,歐陽丞修,楊曼妙,楊恩誠,
  ‧ 單位 生物產業機電工程學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種應用於X光斷層掃描的可攜式檢測台,包括一水平移動裝置,具有一第一滑動方向;以及一夾具,設置於該水平移動裝置上,該夾具與一馬達的輸出軸固定,使該夾具為可旋轉,其中該馬達的輸出軸的軸向與該第一滑動方向平行。




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