依同調干涉儀成像系統與其成像模組與成像方法
刊登日期:2022/01/11
  ‧ 專利名稱 依同調干涉儀成像系統與其成像模組與成像方法
  ‧ 專利證書號 I752616
US11496677B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2020/09/04)
美國 (2020/09/15)
 
  ‧ 發明人/PI 李翔傑,陳庭皓,蔡廷彥,闕川博,張育瑋,王璟郁,
  ‧ 單位 光電工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種訊號控制模組,整合於包括一維陣列影像感測器的低同調干涉儀,其包括影像擷取控制器與訊號控制器。影像擷取控制器發出一維影像擷取控制訊號。訊號控制器發出二維影像擷取控制訊號,其中一維、二維影像擷取控制訊號彼此同步。一維陣列影像感測器根據一維、二維影像擷取控制訊號擷取待測物在多個沿一方向且在不同位置處的一維影像資訊。這些一維影像資訊構成待測物的一二維影像資訊。另一種低同調干涉儀亦被提出。



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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