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 利用電容法量測熱管與均溫板內之空隙率變化
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刊登日期：2022/06/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
熱導元件內部空隙率的量測系統與其量測方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I768756
11768166
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2021/03/10)
美國 (2021/11/18)
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| ‧ 發明人/PI |
孫珍理,劉昱祥,連于仁
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| ‧ 單位 |
機械工程學系
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
一種熱導元件內部空隙率的量測系統，用以量測一熱導元件，包括：一加熱裝置，作為熱源以加熱所述熱導元件的蒸發端；一冷卻裝置，以冷卻所述熱導元件的冷凝端；至少一對電極片，分別貼附於所述熱導元件的兩相對表面；以及一阻抗測試計，電連接於所述至少一對電極片以量測所述熱導元件的阻抗。每一阻抗轉換為相對應於所述熱導元件受量測位置的空隙率。本發明還提供一種熱導元件內部空隙率的量測方法。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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