專利公告 Patents
一種相位陣列天線校正方法
刊登日期：2021/05/01
| ‧ 專利名稱 | 相位陣列天線校正方法 |
| ‧ 專利證書號 | CN114915356B I739181 US11811461B2 |
| ‧ 專利權人 | 國立臺灣大學 |
| ‧ 專利國家 (申請日) |
中華民國 (2019/10/24) 美國 (2021/01/15) 中國 (2021/02/08) |
| ‧ 單位 | 電信工程學研究所 |
| ‧ 發明人 / PI | 周錫增,劉人瑋, |
| ‧ 簡歷 / Experience |
技術摘要 / Our Technology：
一種相位陣列天線校正方法，係為一種應用於掃描波束的相位陣列天線的校正方法，其中上述相位陣列天線具有N個天線元素，其分解成具有M個天線元素的G個子陣列，而相位陣列天線校正方法係包含下列步驟：(a)輸入上述G個子陣列對應操作次序r的子陣列離散傅立葉轉換信號於上述G個子陣列；(b)在一個固定位置量測上述G個子陣列對應操作次序r的遠場信號；(c)重複步驟a至b的操作次序r由1至G次，產生對應上述G個子陣列遠場信號的G個子陣列誤差校正信號。
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