‧ 專利名稱	熱導元件內部空隙率的量測系統與其量測方法
‧ 專利證書號	I768756 11768166
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家     (申請日)	中華民國 (2021/03/10) 美國 (2021/11/18)
‧ 單位	機械工程學系
‧ 發明人 / PI	孫珍理,劉昱祥,連于仁
‧ 簡歷 / Experience

一種熱導元件內部空隙率的量測系統，用以量測一熱導元件，包括：一加熱裝置，作為熱源以加熱所述熱導元件的蒸發端；一冷卻裝置，以冷卻所述熱導元件的冷凝端；至少一對電極片，分別貼附於所述熱導元件的兩相對表面；以及一阻抗測試計，電連接於所述至少一對電極片以量測所述熱導元件的阻抗。每一阻抗轉換為相對應於所述熱導元件受量測位置的空隙率。本發明還提供一種熱導元件內部空隙率的量測方法。

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